OCTOPLUS 500 EBV


腔体尺寸: 550 mm ID,液氮冷屏(兼容水冷)

样品尺寸: 最大4 英寸,向下兼容小尺寸样品

加  热  器: SiC,W等多种类型可选,最高温度达1500 ℃

源炉法兰: 8 × DN63CF,2 × DN250CF

应用领域: SiGe,金属,氧化物,二维材料,拓扑超导材料等
规格: 定制型
品牌: 德国Dr. Eberl MBE-Komponenten GmbH
产品详情


分子束外延系统MBEOCTOPLUS 500 EBV MBE系统是为了在4英寸Si衬底上生长高质量的Si/SiGe材料而研发的。也可以升级为6英寸的样品。腔体也可以装载2个电子束蒸发和8个束流源或者装载气体喷出,或者表面处理。

腔体尺寸: 550 mm ID,液氮冷屏(兼容水冷)

本底真空: < 5 × 10-11 mbar

样品尺寸: 最大4 英寸,向下兼容小尺寸样品

加   热   器: SiC,W等多种类型可选,最高温度达1500 ℃

源炉法兰: 8 × DN63CF,2 × DN250CF

应用领域: SiGe,金属,氧化物,二维材料,拓扑超导材料等



装有束流源和电子束蒸发源的SiGe及其他材料的MBE系统

理想的Si/SiGe外延生长或者金属沉积

基片可以是3,4或者6英寸

2个大容量的电子枪源孔

8个束流源或者气体源孔

原位表征能力

易于使用和维护

洁净室装配和测试

强大的MBE博士专家支持团队

电子枪产生的电子束流可以通过四级质量谱仪检测。样品台选用热解石墨加热或者钨、钽加热丝。OCTOPLUS 500 EBV MBE系统是公认的非常适合于金属、磁性材料、氧化物、拓扑绝缘材料及Si/SiGe异质结构材料生长应用研发与生产。

标准的OCTOPLUS 500 EBV MBE有10个呈放射状分布的源孔,我们建议8个源孔用于束流源、升华源或者相关组件。2个DN250CF大的源孔用于电子束蒸发枪,电子束蒸发也可以是多孔的电子枪-EBVM。快速抽真空进样室配有水平磁力杆传输系统,可以在不破坏MBE腔室真空的前提下,简便地进行样品传输。可以配备RHEED系统原位监测薄膜生长状况。

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直达具体产品分子束外延系统MBE)、 脉冲激光沉积系统(PLD)、 反射式高能电子衍射仪(RHEED)、蒸发源离子源‍、电子枪



电话:010-80698356  邮箱:Info@be-instruments.com   地址: 北京市朝阳区霄云路36号国航大厦1310室


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